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光互連技術的革命性突破:數(shù)字超材料助力多維光通信邁向太比特時代

發(fā)布日期:
2025-04-08

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光互連技術憑借其高帶寬、低功耗和抗電磁干擾等優(yōu)勢,成為突破“電子瓶頸”的關鍵。然而,單模光纖的容量已接近香農極限,如何在有限物理空間內實現(xiàn)更高密度的數(shù)據(jù)傳輸,成為學術界和產業(yè)界共同關注的焦點。本期文章將介紹一項發(fā)表于《NatureCommunications》的研究,提出了一種邊緣引導模擬與數(shù)字優(yōu)化(EG-ADO)方法,成功設計出支持6種模式的數(shù)字超材料復用器,并在硅基光芯片上實現(xiàn)了38.2Tb/s的創(chuàng)紀錄互連容量[1]


引言


隨著人工智能、云計算和虛擬現(xiàn)實等技術的爆發(fā)式增長,傳統(tǒng)電子互連技術已逐漸成為算力提升的瓶頸。銅線傳輸?shù)墓母?、帶寬低、延遲大等問題,使得全球科技巨頭紛紛轉向光互連技術。然而,如何在小尺寸芯片上實現(xiàn)超高容量傳輸,一直是行業(yè)難題。近日,復旦大學聯(lián)合張江實驗室的團隊在《Nature Communications》發(fā)表重磅成果,通過EG-ADO方法,成功設計出支持6種模式的數(shù)字超材料復用器,并在硅基光芯片上實現(xiàn)了38.2Tb/s的創(chuàng)紀錄互連容量。這項研究為下一代數(shù)據(jù)中心和光計算互連提供了全新解決方案。這項技術為何能打破傳統(tǒng)限制?它將如何改變未來的數(shù)據(jù)中心?


技術突破:

EG-ADO方法解密


傳統(tǒng)逆向設計的困境

逆設計通過定義目標性能并反向優(yōu)化結構參數(shù),已成為光子器件設計的新范式。但現(xiàn)有方法面臨兩大挑戰(zhàn):

● 模擬超材料(AM):基于拓撲優(yōu)化的不規(guī)則結構雖性能優(yōu)異,但納米級特征尺寸和復雜輪廓導致制造良率低下。

● 數(shù)字超材料(DM):采用規(guī)則方形/圓形刻蝕的DM易于制造,但直接二進制搜索(DBS)算法的計算復雜度隨模式數(shù)呈指數(shù)增長,難以設計高階復用器。

EG-ADO的三階段優(yōu)化

研究團隊創(chuàng)新性地將邊緣檢測算法引入逆設計流程,提出三階段優(yōu)化框架:

階段一:拓撲優(yōu)化(TO)

● 使用伴隨法(Adjoint Method)對超材料區(qū)域的介電常數(shù)分布進行迭代優(yōu)化。

● 每個迭代步驟通過正向和伴隨電磁場仿真計算目標函數(shù)梯度,逐步逼近最優(yōu)模擬超材料結構。

階段二:邊緣引導轉換

● 采用Canny邊緣檢測算法提取模擬結構中的關鍵輪廓信息。

● 通過最大池化操作將像素尺寸從20nm放大至120nm,滿足商用光刻工藝的最小特征尺寸(MFS)要求。


光互連技術的革命性突破:數(shù)字超材料助力多維光通信邁向太比特時代


圖1與代工廠兼容的逆向設計數(shù)字超材料

● 生成二值化決策圖:非邊緣像素直接繼承模擬結構參數(shù),邊緣像素標記為“待定(TBD)”,僅占總數(shù)5%-10%。

階段三:數(shù)字優(yōu)化

● 針對TBD像素,開發(fā)定制化直接二進制搜索算法:交替測試硅和二氧化硅材料,選擇性能更優(yōu)的配置。

● 最終結構由規(guī)則方形孔洞組成,既保留模擬設計的性能優(yōu)勢,又確保制造可行性。


光互連技術的革命性突破:數(shù)字超材料助力多維光通信邁向太比特時代


圖2EG-ADO方法的工作流程

該方法實現(xiàn)了三大優(yōu)勢:

● 效率提升計算復雜度從二次方(DBS方法)降至線性增長。

● 工藝魯棒性通過邊緣保護機制,減少小尺寸特征對蝕刻精度的依賴。

● 設計自由度支持從二模到六模的靈活擴展。


光互連技術的革命性突破:數(shù)字超材料助力多維光通信邁向太比特時代


圖3 SOI平臺上逆向設計計算復雜度比較


Lumerical軟件:

光場仿真的“數(shù)字孿生”


在器件設計中,團隊采用ANSYS Lumerical的有限差分本征模求解器(FDE),精確計算不同模式的有效折射率和傳輸特性。通過對10×6μm2超材料區(qū)域迭代優(yōu)化,成功實現(xiàn)了五模式間的高效耦合,仿真結果顯示插入損耗低于1.96dB,串擾低于-15.81dB。

Lumerical的核心作用

● 模式分析識別波導中所支持的模式類型及其場分布,為器件設計提供理論基礎。

● 優(yōu)化迭代通過伴隨方法計算梯度,指導結構參數(shù)調整,確保器件在C波段(1530-1565nm)內的平坦響應。

● 工藝驗證模擬刻蝕誤差對器件性能的影響,通過調整設計參數(shù)提升制造魯棒性,使良率提高30%以上。


實驗結果:

單芯片實現(xiàn)440通道并行傳輸


該團隊基于EG-ADO方法設計并制造了支持4、5、6模式的復用器芯片,關鍵性能指標全面領先:

● 低損耗與低串擾:5模式復用器的插入損耗僅1.97dB,串擾低于-20dB,覆蓋整個C波段(1530-1565nm)。對比傳統(tǒng)設計,器件面積縮小一個數(shù)量級,同時支持更高階模式。

● 單波長高速傳輸:每個模式支持108GBaud的PAM-8調制信號,單波長總容量達1.62Tb/s。眼圖清晰,誤碼率(BER)低于OFEC閾值(0.02),驗證了低串擾特性。


光互連技術的革命性突破:數(shù)字超材料助力多維光通信邁向太比特時代


圖4不同通道上108GBaud PAM-8信號的相應眼圖

● 多維復用創(chuàng)紀錄:結合88個波長通道與5個模式,實現(xiàn)440通道并行傳輸,總容量達38.2Tb/s,頻譜效率高達8.68bit/s/HZ。


應用前景:

從數(shù)據(jù)中心到光計算


這項技術的突破性不僅在于傳輸容量,更在于其可擴展性與兼容性:

● 支持下一代數(shù)據(jù)中心:當前主流100G/400G光模塊將逐步升級至800G/1.6T,而EG-ADO技術可輕松擴展至250個波長通道,理論容量達0.218Pb/s,滿足未來十年需求。

● 賦能光計算互連在AI芯片、光子處理器等場景中,高密度光互連可大幅降低延遲與功耗,突破“內存墻”限制。

● 推動硅光生態(tài)兼容CMOS工藝的特性,使得該技術可快速集成到現(xiàn)有芯片平臺,加速硅光技術的產業(yè)化。


結語:

光互連的“中國方案”


這項研究不僅證明了逆設計在復雜光子器件開發(fā)中的巨大潛力,更為光互連技術邁向Pb/s時代奠定了基石。隨著全球數(shù)據(jù)中心能耗問題日益嚴峻,這種“多維復用+逆設計”的技術范式,或將成為破局綠色算力困局的關鍵鑰匙。未來,當每一束光都承載著數(shù)百個獨立信道,或許“光纖到芯片”的愿景,將比想象中更早照進現(xiàn)實。

參考:

[1]Sun, Aolong, et al. "Edge-guided inverse design of digital metamaterial-based mode multiplexers for high-capacity multi-dimensional optical interconnect." Nature Communications 16.1 (2025): 1-12.




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時間主題
3月28日
基于Lumerical&Zemax的超透鏡光學設計仿真流程
4月25日Ansys Lumerical 2025R1新功能介紹
5月基于Lumerical的 OLED的仿真與分析
10月Ansys Lumerical & Optislang聯(lián)合設計與優(yōu)化MZM調制器
11月基于Lumerical常見逆向設計方法介紹:PSO&DBS
12月Ansys Lumerical超表面逆向設計

摩爾芯創(chuàng)2025光學器件線下培訓匯總

地點

時間

蘇州站

2025年4月17-18日
武漢站
2025年5/6月
廣州/深圳站
2025年9月
北京站
2025年12月

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